產(chǎn)品分類
Product Category介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)量儀采用了多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定機(jī)采用了多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗試驗(yàn)裝置作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試裝置作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)量儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí);特別是在軟件上不斷地加以完善,改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測(cè)試精度,并增加新的功能。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí);特別是在軟件上不斷地加以完善,改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測(cè)試精度,并增加新的功能。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí);特別是在軟件上不斷地加以完善,改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測(cè)試精度,并增加新的功能。在介質(zhì)損耗測(cè)試時(shí),當(dāng)材料的損耗較大時(shí),介質(zhì)損耗值會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。)但又無法得到升級(jí)完善,產(chǎn)品沒有新增的功能。因此請(qǐng)廣大用戶注意識(shí)別。
電話
微信掃一掃